Du 11 au 14 mars Radwag exposait au congrès international de métrologie à Lyon. Depuis 1983, le CIM attire des représentants des organismes métrologiques, scientifiques et industrielles. Parmi les 650 participants figuraient des leaders de la mesure et de l’innovation venus de 45 pays : des représentants d’institutions de recherche et de laboratoires ainsi que des clients finaux.

Le programme de la 22e édition du congrès comprenait des sessions parallèles consacrées aux défis mondiaux de l’industrie de la métrologie, notamment 200 d’exposés et de présentations visuelles ainsi que des ateliers et des attractions supplémentaires.

Sur notre stand, nous avons présenté des appareils parfaitement adaptés pour les laboratoires : les balances série 5Y et X7, un dispositif automatique pour l’étalonnage de pipettes multicanaux et un système de pesage robotisé pour peser les filtres.

Nous tenons à remercier tous les visiteurs et autres exposants pour l’intérêt qu’ils ont porté à nos solutions et produits. Ce fut un grand plaisir pour nous de rencontrer nos collègues du secteur et les prospects pour lesquels nous travaillons dur.