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2017-10-09
CIM 2017
Entre los días 18 y 21 de septiembre se celebró en París el Congreso Internacional de Metrología. Este evento fue acompañado por otro muy conocido en Francia: ENOVA PARIS, que reúne a fabricantes y distribuidores de electrónica, metrología, software y otras soluciones modernas de óptica y fotónica.
 
RADWAG participó en este evento como expositor. Presentó el comparador automático con 36 posiciones de almacén UMA 5 y el susceptómetro SM-MYA-5. Nuestro comparador ha sido calificado para el dispositivo más innovador presentado en ENOVA PARIS.
 
Nuestra posición ha atraído la atención de los participantes del congreso, así como de los visitantes de la feria.
 
También disfrutamos de una sesión de carteles durante la cual presentamos nuestro trabajo de investigación sobre "Optimización de Procesos de Calibración de Masa y Pesos utilizando los Comparadores de Masa Automáticos ". 
 
La empresa RADWAG quiere agradecer a todos los que visitaron nuestro puesto de exposición  y la atención. Esperamos volver a reunirnos en dos años, durante el XIX Congreso Internacional de Metrología.



 
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